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中圖CHOTEST三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x支持觸發(fā)、掃描和非接觸式探測(cè)系統(tǒng)。能夠?qū)Ω鞣N零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系進(jìn)行檢測(cè)，也可以對(duì)軟材質(zhì)或復(fù)雜零件進(jìn)行光學(xué)掃描測(cè)量。并且支持測(cè)頭更換架以及影像相機(jī)，同時(shí)支持精密轉(zhuǎn)臺(tái)等。

Mars系列中圖三坐標(biāo)尺寸測(cè)量機(jī)支持觸發(fā)、掃描和非接觸式探測(cè)系統(tǒng)。能夠?qū)Ω鞣N零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系進(jìn)行檢測(cè)，也可以對(duì)軟材質(zhì)或復(fù)雜零件進(jìn)行光學(xué)掃描測(cè)量。主要檢測(cè)形位公差，包括：幾何元素的測(cè)量：點(diǎn)、線、圓、面、球、弧、橢圓、圓柱、圓 錐、鍵 槽、曲線、曲面 幾何元素的構(gòu)造等。

Mars系列Classic三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)采用海德漢光柵尺，確保機(jī)器在使用過(guò)程中具有高精度和長(zhǎng)時(shí)間的穩(wěn)定性。是移動(dòng)橋式的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。能夠?qū)Ω鞣N零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系進(jìn)行檢測(cè)，也可以對(duì)軟材質(zhì)或復(fù)雜零件進(jìn)行光學(xué)掃描測(cè)量。

Mars Classic系列全自動(dòng)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)支持觸發(fā)、掃描和非接觸式探測(cè)系統(tǒng)。能夠?qū)Ω鞣N零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系進(jìn)行檢測(cè)，也可以對(duì)軟材質(zhì)或復(fù)雜零件進(jìn)行光學(xué)掃描測(cè)量?？捎糜跈C(jī)械制造、汽車工業(yè)、電子工業(yè)、航空航天工業(yè)以及計(jì)量檢測(cè)等領(lǐng)域，是現(xiàn)代工業(yè)檢測(cè)和質(zhì)量控制的重要檢測(cè)設(shè)備。

中圖高精度三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)采用自潔式預(yù)載荷高精度空氣軸承的三軸導(dǎo)軌，運(yùn)動(dòng)更平穩(wěn)，更耐磨損。支持各種測(cè)量軟件，包括Rational DMIS、中圖SMT-DMIS、 ARCOCAD等，支持中圖控制器和Pantec控制器?？捎糜跈C(jī)械制造、汽車工業(yè)、電子工業(yè)、航空航天工業(yè)以及計(jì)量檢測(cè)等領(lǐng)域，是現(xiàn)代工業(yè)檢測(cè)和質(zhì)量控制的重要檢測(cè)設(shè)備。

Mars Classic系列國(guó)產(chǎn)cmm三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是中圖儀器推出的移動(dòng)橋式結(jié)構(gòu)的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。支持觸發(fā)、掃描和非接觸式探測(cè)系統(tǒng)。能夠?qū)Ω鞣N零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系進(jìn)行檢測(cè)，也可以對(duì)軟材質(zhì)或復(fù)雜零件進(jìn)行光學(xué)掃描測(cè)量。可用于機(jī)械制造、汽車工業(yè)、電子工業(yè)、航空航天工業(yè)以及計(jì)量檢測(cè)等領(lǐng)域，是現(xiàn)代工業(yè)檢測(cè)和質(zhì)量控制的重要檢測(cè)設(shè)備。

Mars系列Classic三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是一種高精度的測(cè)量設(shè)備，可以測(cè)量復(fù)雜物體的形狀、尺寸和位置等幾何參數(shù)。任何形狀都是由空間點(diǎn)組成的，所有的幾何量測(cè)量都可以歸結(jié)為空間點(diǎn)的測(cè)量，因此用三坐標(biāo)進(jìn)行空間點(diǎn)坐標(biāo)的精確采集，是評(píng)定任何幾何形狀的基礎(chǔ)。

中圖儀器Mars系列高精度橋式三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x是一移動(dòng)橋式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，通過(guò)將被測(cè)物體置于三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量空間，利用接觸或非接觸探測(cè)系統(tǒng)精確的測(cè)出被測(cè)零件表面的點(diǎn)在空間三個(gè)坐標(biāo)位置的數(shù)值，然后這些點(diǎn)的空間坐標(biāo)值，擬合形成測(cè)量元素，如圓、球、圓柱、圓錐、曲面等，由軟件進(jìn)行數(shù)學(xué)運(yùn)算，求出待測(cè)的幾何尺寸和形狀、位置。