中圖儀器國產(chǎn)高靈敏度掃描電鏡搭配有多種探頭,能夠?qū)悠愤M(jìn)行多種手段的分析。外型緊湊,空間適用性強(qiáng),整機(jī)采用大量的抗干擾設(shè)計(jì),避免使用環(huán)境造成的影響,拓寬了應(yīng)用范圍。同時,中圖臺式電鏡具有非常豐富的自動調(diào)節(jié)功能,能夠?qū)Σ煌愋偷臉悠愤M(jìn)行觀測,具有高空間分辨率。
SEM高精度科研檢測掃描電鏡操作系統(tǒng)簡便,使用過程簡單快捷。樣品一鍵裝入,自動導(dǎo)航和一鍵出圖能力(自動聚焦+自動消像散+自動亮度對比度)幫助用戶在短短幾十秒內(nèi)就可獲取高清圖像,大大提升了使用效率。
中圖儀器3D材料共聚焦測量顯微鏡基于共聚焦技術(shù),結(jié)合精密Z向掃描與智能3D建模算法,可實(shí)現(xiàn)對納米至微米級表面形貌的高精度測量,覆蓋光滑、粗糙、低反射至高反射等多樣化材料表面。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、3C電子、汽車零部件、航空航天、MEMS器件等超精密加工領(lǐng)域,助力企業(yè)提升質(zhì)量控制效率與產(chǎn)品研發(fā)能力。
SuperViewW白光干涉晶圓3D形貌測量儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個精細(xì)器件的過程用時短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。
CEM3000系列納米級成像掃描電鏡運(yùn)用了快速抽放氣設(shè)計(jì),讓用戶在使用時不再等待,且全系列可選配低真空系統(tǒng),以便精準(zhǔn)調(diào)節(jié)樣品倉內(nèi)真空度,滿足不同樣品的觀測需求。
CEM3000系列毫米級景深掃描電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng),這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上,在用戶手邊實(shí)時呈現(xiàn)所得結(jié)果。此外,該系列臺式電鏡也可以進(jìn)入手套箱、車廂還是潛水器等狹小空間內(nèi)大顯身手。
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